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一种可调节式利用光的干涉效应的高精度测量仪

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成果类型:
专利
发明/设计人:
戴志平;刘金汝;陈湘涛
申请/专利权人:
衡阳师范学院
专利类型:
实用新型
语种:
中文
申请时间:
2020-11-03
申请/专利号:
CN202022505849.8
公开时间:
2021-06-29
公开号:
CN213579149U
主申请人地址:
421000 湖南省衡阳市雁峰区黄白路165号
代理人:
李志海
机构署名:
本校为其他完成单位
主权项:
1.一种可调节式利用光的干涉效应的高精度测量仪,包括底座(1)和阻尼槽(14),其特征在于:所述底座(1)的底部安装有万向轮(2),且底座(1)的上端外侧设置有三角钢板(3),所述底座(1)的上端中部连接有固定套杆(4),且固定套杆(4)的上端设置有外螺纹头(5),所述外螺纹头(5)的中部开设有开口(6),且外螺纹头(5)的外侧连接有内螺纹套(7),所述外螺纹头(5)的内侧设置有橡胶套(8),且橡胶套(8)的内侧安置有活动杆(9),所述活动杆(9)的外侧设置有凸条(10),且活动杆(9)的上端安装有连接架(11),所述连接架(11)的侧部连接有紧固盘(12),且连接架(11)的上端安置有安装板(13),所述阻尼槽(14)设置于安装板(13)的上端外侧,且安装板(13)的上端中部开设有通孔(15),所述阻尼槽(14)的上端通过连接栓(16)安装有光学干涉仪(17),且连接栓(16)的外侧设置有弹簧(18)。 2.根据权利要求1所述的一种可调节式利用光的干涉效应的高精度测量仪,其特征在于:所述万向轮(2)与底座(1)之间为固定焊接,且底座(1)、三角钢板(3)和固定套杆(4)之间均为固定连接。 3.根据权利要求1所述的一种可调节式利用光的干涉效应的高精度测量仪,其特征在于:所述活动杆(9)通过凸条(10)与固定套杆(4)构成活动结构,且活动杆(9)与橡胶套(8)之间为活动连接。 4.根据权利要求1所述的一种可调节式利用光的干涉效应的高精度测量仪,其特征在于:所述内螺纹套(7)与外螺纹头(5)之间为活动连接,且外螺纹头(5)的中部开设有四个开口(6)。 5.根据权利要求1所述的一种可调节式利用光的干涉效应的高精度测量仪,其特征在于:所述安装板(13)与连接架(11)之间为固定焊接,且连接架(11)通过紧固盘(12)与活动杆(9)构成活动结构。 6.根据权利要求1所述的一种可调节式利用光的干涉效应的高精度测量仪,其特征在于:所述光学干涉仪(17)通过阻尼槽(14)与安装板(13)构成活动结构,且安装板(13)与弹簧(18)之间为活动连接。
摘要:
本实用新型公开了一种可调节式利用光的干涉效应的高精度测量仪,包括底座和阻尼槽,所述底座的底部安装有万向轮,所述底座的上端中部连接有固定套杆,且固定套杆的上端设置有外螺纹头,所述外螺纹头的中部开设有开口,且外螺纹头的外侧连接有内螺纹套,所述外螺纹头的内侧设置有橡胶套,且橡胶套的内侧安置有活动杆,所述活动杆的外侧设置有凸条,且活动杆的上端安装有连接架,所述连接架的侧部连接有紧固盘,且连接架的上端安置有安装板,所述阻尼槽设置于安装板的上端外侧,所述阻尼槽的上端通过连接栓安装有光学干涉仪。该可调节式利用光的干涉效应的高精度测量仪设置有活动安装的安装板,...

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