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一种两段法开环式同步测量介质表面氡析出率的方法

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成果类型:
专利
发明/设计人:
袁红志;谭延亮
申请/专利权人:
衡阳师范学院
专利类型:
发明专利
语种:
中文
申请时间:
2018-10-30
申请/专利号:
CN201811272742.4
公开时间:
2019-03-08
公开号:
CN109444940A
主申请人地址:
421002 湖南省衡阳市珠晖区衡花路16号
代理人:
李大为
机构署名:
本校为其他完成单位
主权项:
1.一种两段法开环式同步测量介质表面氡析出率的方法,包括测量过程和计算过程;S1、测量过程:将一面开口的集氡罩扣在待测介质表面上,或将介质装入密闭的集氡罩收集室内,由于介质内的氡原子在扩散与渗流作用下,逸出表面进入集氡罩收集室,导致集氡罩收集室内氡浓度变化;泵一直以恒定流速将外界的空气抽入集氡罩,与集氡罩内的空气混合均匀后送入测氡仪,流速0.5~15升/分钟,使得测氡仪内部的氡浓度与集氡罩内的氡浓度平衡,流量计用来测量流量;本方法采用较长的时间间隔连续测量2个测量周期,两个测量周期分别为T1、T2,其取值范围为5~90分钟;为减少统计涨落带来的测量误差,T1>T2;S2、计算过程:由于泵的流率较大,测氡仪内的氡浓度与集氡罩内的氡浓度相等,外界环境空气氡浓度非常低,可以近似为0;测氡仪内的氡浓度C(t)为:<img file="FDA0001846356540000011.TIF" wi="700" he="69"/>λe=λ+λb+λleak(2)J为被测介质表面氡析出率;S为集氡罩的底面积;V为集氡罩体积;L为泵的流率;λe为有效衰变常数,包括氡的衰变常数λ,集氡罩内氡的泄漏系数λleak和反扩散系数λb;t为集氡的时间;式(1)可改写为:<img file="FDA0001846356540000012.TIF" wi="700" he="71"/>式(3)的解为:<img file="FDA0001846356540000021.TIF" wi="700" he="106"/>对式(4)在{0,T1}和{T1,T1+T2}区间分别积分,再分别除以T1和T2可以得到:<img file="FDA0001846356540000022.TIF" wi="700" he="134"/><img file="FDA0001846356540000023.TIF" wi="700" he="217"/>C1,C2分别为测氡仪在两个测量周期的读数;根据式(5)、(6)可以解得氡析出率J和有效衰变常数λe。
摘要:
本发明公开了一种两段法开环式同步测量介质表面氡析出率及有效衰变常数的方法,该方法包括测量过程和计算过程,采用开环式测量装置,并对现有的计算方法进行了修正,利用氡浓度的变化规律与氡析出率之间的关系算式,从而建立氡析出率及有效衰变常数与氡浓度之间的代数关系式,再通过两个周期氡浓度的测量数据就能够运用简单的代数运算快速测出待测介质的氡析出率及有效衰变常数,这种方法测量装置简单,操作方便,减少了数据计算量,缩短了计算过程和时间,满足对氡析出率及有效衰变常数快速测量的需要。本方法采用较长的时间间隔连续测量2个测量周期,有效减少了统计涨落带来的测量误差,提高...

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