专利

发明专利

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2018-05-21

CN201810489227.5

2018-09-28

CN108595387A

421002 湖南省衡阳市珠晖区衡花路16号

421002 湖南省衡阳市珠晖区衡花路16号

本校为其他完成单位

1.提出一种自适应的IDW插值方法：步骤一：数据预处理包括3个子部分：<img file="643597DEST_PATH_IMAGE001.TIF" wi="14" he="15"/>数据清理：将位于同一位置、存在压盖情况的空间点保留其中任意一个；<img file="436103DEST_PATH_IMAGE002.TIF" wi="14" he="15"/>将清理过后的空间点生成Delaunay三角网，并剔除边界区域长边所在的三角形，确保样本点面积的准确性；<img file="91207DEST_PATH_IMAGE003.TIF" wi="14" he="14"/>计算单位面积内样点的分布密度——λ。

本发明提出一种自适应的IDW插值方法，旨在为空间点数据插值提供更为精确的方法支持。本发明先将点数据进行预处理，再对待插值空间点二阶半径、一阶半径内高密度显著性分析，若二阶半径内为高密度显著，则将二阶半径范围内的样点作为参考点参与到IDW插值中，否则进行一阶半径内高密度显著性分析，若一阶半径内高密度显著，则将一阶半径范围内的点作为参考点进行IDW插值。若一阶、二阶半径内空间样点均不高密度显著，则将待插值点的一阶邻近点作为IDW插值的局部搜索点，进行IDW插值。