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测量氡析出率的方法

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成果类型:
专利
发明/设计人:
谭延亮;肖 田;周 毅
申请/专利权人:
衡阳师范学院
专利类型:
发明专利
语种:
中文
申请时间:
2009-7-1
申请/专利号:
CN200910043858.5
公开时间:
2009-12-23
公开号:
CN101609154
主申请人地址:
421008湖南省衡阳市雁峰区黄白路165号
申请地区:
湖南
代理人:
邹小强
专利代理机构:
衡阳市科航专利事务所
机构署名:
本校为其他完成单位
主权项:
1、一种测量氡析出率的方法,它包括测量过程和计算过程,一、测量过程:将集氡罩扣在待测介质表面上,或将介质装入集氡罩收集室内,由于介质内的氡原子在扩散与渗流作用下,逸出表面进入集氡罩收集室,导致集氡罩收集室内氡浓度变化,泵一直以恒定流速将集氡罩收集室内的氡通过干燥管和滤膜滤出子体后泵入测量室,流速0.5-2升/分钟,使得测量室的氡浓度与集氡罩收集室内的氡浓度平衡;测量室内有一半导体探测器,半导体探测器与二次仪表连接,探测钋218衰变放出的α粒子计数,在测量室底及壁与半导体探测器之间加以50-100伏/厘米的电场,使得氡衰变后产生的带正电的钋218在电场作用下高速吸附到半导体探测器面上,提高探测效率;测量得到的氡浓度是测量时间内的平均浓度,具体对应哪个时间点难以确定,采用短时间间隔测量,既1-5分钟测量一次,就可以近似认为测量得到的氡浓度对应测量时间的中间,可以减小测量时间较长导致的氡浓度对应的时间不确定性,这样短时间间隔可能造成统计涨落较大,可以通过增加测量点来弥补,并没有增加总的测量时间;仅仅测量钋218衰变放出的α粒子计数来反推氡浓度,可以完全排除钍射气的干扰,等时间间隔测量得到一组氡浓度数据,考虑泄漏和反扩散影响,同时对氡与其衰变子体钋218进行非平衡修正,就能得到较准确的介质表面氡析出率;二、计算过程:将集氡罩扣在待测介质表面上,这时集氡罩内氡浓度变化可用式(1)描述:
摘要:
一种测量氡析出率的方法,包括测量过程和计算过程,将集氡罩扣在待 测介质表面上,或将介质装入集氡罩收集室内,等时间间隔测量得到一组氡 浓度数据,将测量得到的氡浓度数据根据式(9), 非线性拟合得到氡析出率。或利用20分钟以后的测量数据根据式(10),非线性拟合得到氡析出率。

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