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GaN发光二极管表观电容极值分析

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成果类型:
期刊论文
作者:
谭延亮;游开明;陈列尊;袁红志
作者机构:
[游开明; 陈列尊; 谭延亮] 衡阳师范学院,物电系
[袁红諶] 湖南天雁机械有限公司
语种:
中文
关键词:
GaN发光二极管;负电容;正向交流(ac)小信号方法;可变电容;极值
关键词(英文):
negative capacitance;forward alternating current (ac) small signal method;variable capacitance;extremum
期刊:
发光学报
ISSN:
1000-7032
年:
2007
卷:
28
期:
2
页码:
237-240
基金类别:
湖南省教育厅科学研究基金资助项目
机构署名:
本校为第一机构
院系归属:
物理与电子工程学院
摘要:
利用正向交流(ac)小信号方法对GaN发光二极管的电容-电压特性进行测量,可以观察到GaN发光二极管中的负电容现象.正向偏压越大,测试频率越低,负电容现象越明显.测量到的负电容现象是表象,不存在负电容;提出GaN发光二极管p-n结的结电容在特定的正向电压范围内等效于可变电容.分析可变电容对正向交流小信号响应得到:特定参数的可变电容使结电容电流相位落后于交流小信号电压相位π/2,使得在测量中表现为负电容.发现表观电容-正向电压曲线的极值点与理论模型相吻合,证明了该理论模型的正确性.
摘要(英文):
The forward current-voltage characteristic and forward capacitance-voltage characteristic measurings are the most important methods to study the forward electrical characteristic of GaN light-emitting diodes. We can use the forward alternating current (ae) small signal method to measure the capacitance-voltage characteristic of the GaN light-emitting diodes. Some values of GaN light-emitting diodes parameters can be deduced from capacitance-voltage characteristic. The negative capacitance phenomenon of GaN light-emitting diode can be observed...

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